硬件设计从失败案例中找方法

大家好，我是记得诚。

2022年底，受邀去上海参加电子技术大会，并在一个硬件设计的分论坛做一场演讲，题目是《硬件设计从失败案例中找方法》，一般演讲都是比较紧张的，而且是现场，台下坐着的都是同行，大佬云集。

针对这种情况，我的做法是提前准备，先把PPT打磨好，然后对着空气演讲几遍，演讲和写文章差别太大了，文章可以不断的进行修改，将自己认为最完美的一版呈现给读者。

而演讲就不同了，说的话像泼出去的水一样，是收不回来的，所以每一句话都显得尤其的重要，而且中间不能有长时间的停顿。

我发现光演练，每一遍都有一些差异，所以就有了下面的逐字稿。

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大家下午好，首先非常感谢大会的邀请，很荣幸也很开心，在这里，和大家做一个简单的分享和交流，这次课题的名字是：硬件设计从失败案例中找方法。

为什么取这个名字呢？因为成功不会从天而降，失败往往有迹可循。

台下很多都是工程技术人员，硬件工程师居多，我们都知道在一个项目的开发过程中，硬件工程师几乎要参与到项目的每一个阶段，从概念，到计划，到开发验证，再到后面的量产维护。

那大家有没有思考过这样一个问题，在哪一个阶段，我们的收获是最多的，这里的收获我们指的是我们技术上的积累。

如果一个项目做下来，平平无奇，很平淡，一帆风顺，我们用的电路都是标准化的电路，一些大公司标准化的电路，顺利的跑完整个流程，没犯错，我们的KPI可能比较高。

但是让我们技术成长，积累最多的，一定是熬夜加班DEBUG，调试一些新的电路方案，我们踩了一些坑，较劲脑子来把这些坑填平，我们把这些宝贵的踩坑经历写成文档，形成方法论，再形成一个标准化的流程，我相信这才是真正的技术收获。

大公司出错几率小，那是无数的前人栽了无数的树，做了很多工作，包括标准化的文档，标准化的作业流程等等。

我们今天的内容就是从三个案例，来介绍一些设计方法，调试方法，以及调试原理。

• 第1个案例是线性充电发热问题，这里涉及的方法是冗余设计。
• 第2个案例是批次底电流差异问题的，这里涉及一个电流分解的方法，叫作灌电压法。
• 第3个案例是SIM概率掉卡问题，这里介绍的是海森堡测不准原理。

然后下面就是逐一的讲这几个案例。

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上海这次算是我第二次线下演讲，整体对自己还是满意的，紧张还是紧张，但是相比较第一次，有了长足的进步，说实话，还是挺享受这种感觉的。

继续加油吧！